《天寶DiNi03系列數(shù)字水準(zhǔn)儀i角誤差檢校及誤差分析畢業(yè)設(shè)計(jì)說(shuō)明書(論文)》由會(huì)員分享，可在線閱讀，更多相關(guān)《天寶DiNi03系列數(shù)字水準(zhǔn)儀i角誤差檢校及誤差分析畢業(yè)設(shè)計(jì)說(shuō)明書(論文)（26頁(yè)珍藏版）》請(qǐng)?jiān)谘b配圖網(wǎng)上搜索。

1、 1 緒論 隨著科學(xué)技術(shù)特別是電子技術(shù)的迅速發(fā)展，數(shù)字水準(zhǔn)儀在水準(zhǔn)測(cè)量中被廣泛應(yīng)用。它融電子技術(shù)、圖像處理技術(shù)、計(jì)算機(jī)于一體，以條碼間隔影像信息與參考信號(hào)進(jìn)行圖像數(shù)學(xué)處理的測(cè)量原理，自動(dòng)采集測(cè)量數(shù)據(jù)、信息處理和獲取自動(dòng)記錄每一個(gè)觀測(cè)值，從而實(shí)現(xiàn)水準(zhǔn)測(cè)量?jī)x器的發(fā)展方向。雖然數(shù)字水準(zhǔn)儀具有將測(cè)定的i角存入機(jī)內(nèi)，并對(duì)所測(cè)數(shù)據(jù)按該i角進(jìn)行自動(dòng)修正功能，但儀器i角受外界溫度、濕度、振動(dòng)的影響而瞬時(shí)變化仍然存在。因此，研究討論數(shù)字水準(zhǔn)儀i角問(wèn)題非常有必要。天寶DiNi03系列數(shù)字水準(zhǔn)儀——世界上精度最高的數(shù)字水準(zhǔn)儀之一，其各項(xiàng)指標(biāo)都明顯優(yōu)于其他數(shù)字水準(zhǔn)儀。其性能卓越、操作方便，使水準(zhǔn)測(cè)量進(jìn)入了數(shù)字

2、時(shí)代，大大提高了生產(chǎn)效率。已廣泛應(yīng)用于地震、測(cè)繪、電力、水利等系統(tǒng)，在各項(xiàng)重大工程中發(fā)揮著強(qiáng)大的作用。由此天寶DiNi03系列數(shù)字水準(zhǔn)儀i角問(wèn)題研究顯得尤為重要。 目前，水準(zhǔn)儀的i角研究主要反映在三個(gè)方面，即：方法、速度和精度。關(guān)于i角的檢校方法，我們比較成熟，許多測(cè)量學(xué)類教材中，就提供了一種廣泛采用的方法。近年電子水準(zhǔn)儀i角自動(dòng)檢校中，又出現(xiàn)了其他三種新方法。在提高檢驗(yàn)水準(zhǔn)儀i角的速度上，也出現(xiàn)了一些研究成果，電子水準(zhǔn)儀的自動(dòng)化檢校更是大大提高了檢校水準(zhǔn)儀i角的速度。在評(píng)定水準(zhǔn)儀i角的精度上，也出現(xiàn)了一些成果，既有定性的也有定量的。國(guó)內(nèi)外對(duì)水準(zhǔn)儀的i角全部采用平行光管進(jìn)行檢驗(yàn)和校正，儀器設(shè)

3、備價(jià)格昂貴，一般都是送專門的測(cè)繪儀器鑒定部門進(jìn)行檢驗(yàn)和校正，而儀器使用單位如果自己對(duì)水準(zhǔn)儀的i角進(jìn)行檢驗(yàn)和校正，大都是在室外安置儀器、立尺進(jìn)行檢驗(yàn)和校正，需要人員多、誤差較大、作業(yè)條件差，利用誤差傳播定律的定量研究不深入。盡管這方面工作之前有人進(jìn)行過(guò)研究，諸如DS3、徠卡系列、蔡司系列水準(zhǔn)儀i角的研究，但對(duì)于天寶DiNi03系列數(shù)字水準(zhǔn)儀i角誤差檢校方法與誤差分析這方面，前人尚未做出過(guò)系統(tǒng)地分析，仍可以在這方面做一些有益的初步探究工作。 2 數(shù)字水準(zhǔn)儀簡(jiǎn)介 2.1 數(shù)字水準(zhǔn)儀工作原理 數(shù)字水準(zhǔn)儀是目前最先進(jìn)的水準(zhǔn)儀，配合專門的條碼水準(zhǔn)尺，通過(guò)儀器中內(nèi)置的數(shù)字成像系統(tǒng)，自動(dòng)獲取水準(zhǔn)

4、尺的條碼讀數(shù)，不再需要人工讀數(shù)。這種儀器可大大降低測(cè)繪作業(yè)勞動(dòng)強(qiáng)度，避免人為的主觀讀數(shù)誤差，提高測(cè)量精度和效率。它利用數(shù)字圖像處理技術(shù)，把由標(biāo)尺進(jìn)入望遠(yuǎn)鏡的條碼分劃影像，用行陣探測(cè)器傳感器替代觀測(cè)員的肉眼，從而實(shí)現(xiàn)觀測(cè)夾準(zhǔn)和讀數(shù)自動(dòng)化。測(cè)量作業(yè)時(shí)只要將水準(zhǔn)儀概略整平，補(bǔ)償器自動(dòng)使視線水平，照準(zhǔn)標(biāo)尺并調(diào)焦，按測(cè)量鍵等4秒鐘后，在顯示器上即顯示h和d。每站觀測(cè)數(shù)據(jù)在內(nèi)存模塊或PCMCIA卡上自動(dòng)記錄并進(jìn)行各項(xiàng)檢校，儀器可設(shè)置自動(dòng)進(jìn)行地球彎曲差和大氣垂直折光差改正。 2.2 數(shù)字水準(zhǔn)儀特點(diǎn) 數(shù)字水準(zhǔn)儀是以自動(dòng)安平水準(zhǔn)儀為基礎(chǔ)，在望遠(yuǎn)鏡光路中增加了分光鏡和探測(cè)器（CCD），并采用條碼標(biāo)尺和圖象處

5、理電子系統(tǒng)二構(gòu)成的光機(jī)電測(cè)一體化的高科技產(chǎn)品。采用普通標(biāo)尺時(shí)，又可象一般自動(dòng)安平水準(zhǔn)儀一樣使用。它與傳統(tǒng)儀器相比有以下共同特點(diǎn)： （1）讀數(shù)客觀。沒有人為讀數(shù)誤差，不存在誤記問(wèn)題。 （2）精度十分高。視線高和視距讀數(shù)都是采用大量條碼分劃圖象經(jīng)處理后取平均得出來(lái)的，因此削弱了標(biāo)尺分劃誤差的影響。多數(shù)儀器都有進(jìn)行多次讀數(shù)取平均的功能，可以削弱外界條件影響。對(duì)于不專業(yè)的的測(cè)繪人員也能進(jìn)行高精度測(cè)量。 （3）測(cè)量進(jìn)程快。由于省去了報(bào)數(shù)、聽記、現(xiàn)場(chǎng)計(jì)算的時(shí)間以及人為出錯(cuò)的重測(cè)數(shù)量，測(cè)量時(shí)間與傳統(tǒng)儀器相比可以節(jié)省1/3左右。 （4）工作效率高。只需調(diào)焦和按鍵就可以自動(dòng)讀數(shù)，減輕了勞動(dòng)強(qiáng)度。視距還能

6、自動(dòng)記錄，檢核，處理并能輸入電子計(jì)算機(jī)進(jìn)行后處理，可實(shí)現(xiàn)內(nèi)外業(yè)一體化[1]。 2.3 國(guó)內(nèi)數(shù)字水準(zhǔn)儀研究和應(yīng)用現(xiàn)狀 關(guān)于數(shù)字水準(zhǔn)儀的研究，武漢測(cè)繪科技大學(xué)的孫堅(jiān)曾在《數(shù)字水準(zhǔn)儀的現(xiàn)狀與發(fā)展》一文中系統(tǒng)的闡述了數(shù)字水準(zhǔn)儀的基本原理、存在問(wèn)題、解決辦法及發(fā)展趨勢(shì)，而歲有中、郝永青、張新霞在《數(shù)字水準(zhǔn)儀的原理及應(yīng)用》一文中系統(tǒng)的闡述了數(shù)字水準(zhǔn)儀的特點(diǎn)、組成部分、讀數(shù)原理和誤差來(lái)源等，前人在這些方面做出的研究已經(jīng)比較詳細(xì)。落實(shí)到具體的儀器上，前人在這方面也做了一些工作，例如冷明全在《Topcom數(shù)字水準(zhǔn)儀在水準(zhǔn)測(cè)量中的應(yīng)用》一文中概括的闡述了Topcom水準(zhǔn)儀的簡(jiǎn)介、使用、水準(zhǔn)測(cè)量數(shù)據(jù)通信傳輸與

7、處理、使用注意的問(wèn)題等，而張志勇曾在《Leica DNA03數(shù)字水準(zhǔn)儀及其精度測(cè)試》一文中全面地介紹了DNA03數(shù)字水準(zhǔn)儀的技術(shù)指標(biāo)及特點(diǎn)、主要功能、精度分析等，此外，包寶華、陳星辰、付兵等在《Trimble DiNi12數(shù)字水準(zhǔn)儀原理與應(yīng)用》一文中詳細(xì)的介紹了Trimble DiNi12數(shù)字水準(zhǔn)儀的特點(diǎn)、工作原理、量算核心等，并結(jié)合具體的工程實(shí)例進(jìn)行了應(yīng)用。前人在具體儀器方面做了一些研究，但關(guān)于天寶DiNi03數(shù)字水準(zhǔn)儀的研究仍是一片空白。 目前，由于各項(xiàng)工程作業(yè)精度要求不同，又考慮到儀器的成本，國(guó)內(nèi)使用的數(shù)字水準(zhǔn)儀分為國(guó)產(chǎn)和進(jìn)口兩類儀器，其中國(guó)產(chǎn)的儀器以南方測(cè)繪公司生產(chǎn)的DL系列數(shù)字水準(zhǔn)

8、儀、蘇州一光儀器公司生產(chǎn)的DS、EL系列數(shù)字水準(zhǔn)儀、中緯測(cè)量系統(tǒng)(武漢)有限公司生產(chǎn)的中緯ZDL700系列數(shù)字水準(zhǔn)儀、科力達(dá)公司生產(chǎn)的DL系列數(shù)字水準(zhǔn)儀為代表，而進(jìn)口的國(guó)外儀器以瑞士徠卡公司生產(chǎn)的DNA、NA系列數(shù)字水準(zhǔn)儀、德國(guó)蔡司公司生產(chǎn)的DiNi系列數(shù)字水準(zhǔn)儀、日本拓普康公司生產(chǎn)的DL系列數(shù)字水準(zhǔn)儀、索佳公司生產(chǎn)的SDL系列數(shù)字水準(zhǔn)儀和美國(guó)天寶公司生產(chǎn)的DiNi系列數(shù)字水準(zhǔn)儀為代表，下面舉例說(shuō)明這些儀器基本參數(shù)。（見表1、表2，其中天寶DiNi系列數(shù)字水準(zhǔn)儀詳細(xì)內(nèi)容見下文敘述） 表 1 國(guó)內(nèi)數(shù)字水準(zhǔn)儀基本參數(shù) 型號(hào) 南方測(cè)繪公司 蘇州一光儀器公司 中緯測(cè)量系統(tǒng)有限公司 科力達(dá)

9、公司 DL3003 DL-2007 DS03 EL-201 中緯ZDL700 DL-201 1km往返精度 0.3mm 0.7mm 0.3mm 0.7mm 0.7mm 1.0mm 測(cè)量范圍 1.5-100m 1.5-110m 1.2-100m 1-100m 2m-105m 1.5-100m 補(bǔ)償精度 12′ 12′ 15′ 12′ 10′ 12′ 安平精度 0.2″ 0.2″ 0.2″ 0.3″ 0.35″ 0.3″ 望遠(yuǎn)鏡倍率 32× 32× 42× 32× 24×

10、; 32× 表 2 國(guó)外數(shù)字水準(zhǔn)儀基本參數(shù) 型號(hào) 徠卡公司 蔡司公司 拓普康公司 索佳公司 DNA03 NA2 DiNi12 DL-502 SDL30M 1km往返精度 0.3mm 0.3mm 0.3mm 0.4mm 0.4mm 測(cè)量范圍 1.8-110m 1.6-110m 1.5-100m 1.6-100m 1.6-100m 補(bǔ)償精度 10′ 30′ 15′ 15′ 15′ 安平精度 0.3″ 0.3″ 0.2″ 0.3″ 0.3″ 望遠(yuǎn)鏡倍率 24× 32× 32×

11、 32× 32× 2.4 數(shù)字水準(zhǔn)儀和光學(xué)水準(zhǔn)儀的比較 （1）相同點(diǎn)：數(shù)字水準(zhǔn)儀具有與光學(xué)水準(zhǔn)儀相同的光學(xué)、機(jī)械和補(bǔ)償器結(jié)構(gòu)；光學(xué)系統(tǒng)也是沿用光學(xué)水準(zhǔn)儀的；水準(zhǔn)標(biāo)尺一面具有用于電子讀數(shù)的條碼，另一面具有光學(xué)水準(zhǔn)標(biāo)尺的E型分劃；既可用于數(shù)字水準(zhǔn)測(cè)量，也可用于傳統(tǒng)水準(zhǔn)測(cè)量，摩托化測(cè)量，變形監(jiān)測(cè)和適當(dāng)?shù)墓I(yè)測(cè)量。 （2）不同點(diǎn)：光學(xué)水準(zhǔn)儀用人眼觀測(cè)，數(shù)字水準(zhǔn)儀用光電傳感器(CCD線陣)代替人眼；數(shù)字水準(zhǔn)儀與其相應(yīng)條碼水準(zhǔn)標(biāo)尺配用。儀器內(nèi)裝有圖像識(shí)別器；采用數(shù)字圖像處理技術(shù)，這些都是光學(xué)水準(zhǔn)儀所沒有的；同一根編碼標(biāo)尺上的條碼寬度不同，各型數(shù)字水準(zhǔn)儀的條碼尺有自己的編

12、碼規(guī)律，但均含有黑白兩種條塊，這與光學(xué)水準(zhǔn)標(biāo)尺不同。另外，對(duì)精密水準(zhǔn)儀而言，光學(xué)的利用測(cè)微器讀數(shù)，而數(shù)字水準(zhǔn)儀沒有測(cè)微器[2]。 2.5 數(shù)字水準(zhǔn)儀展望 數(shù)字水準(zhǔn)儀是一種功能很強(qiáng)的涮量系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度比光學(xué)水準(zhǔn)儀提高50％～60％，易于實(shí)現(xiàn)內(nèi)外業(yè)一體化，所以肯定是幾何水準(zhǔn)測(cè)量繼續(xù)發(fā)展的方向。今后數(shù)字水準(zhǔn)儀將從以下幾個(gè)方面進(jìn)行完善： （1）改善補(bǔ)償器的結(jié)構(gòu)與安平精度； （2）數(shù)字水準(zhǔn)儀之所以能成功，主要是依賴于CCD技術(shù)和數(shù)字圖象處理技術(shù)，因而今后數(shù)字水準(zhǔn)儀將隨著CCD技術(shù)和數(shù)字圖象技術(shù)的發(fā)展而發(fā)展； （3）改善玻璃纖維條碼標(biāo)尺的材料； （4）改進(jìn)測(cè)量程序與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)軟件；

13、 （5）增強(qiáng)儀器適應(yīng)環(huán)境的能力； （6）使機(jī)內(nèi)系統(tǒng)邏輯增加對(duì)其它一些干擾，如亮度變化，補(bǔ)償器應(yīng)力釋放，傳感器時(shí)性改變等的改正[2]； （7）儀器的價(jià)格將會(huì)降低，應(yīng)用范圍也會(huì)滲透到精密水準(zhǔn)測(cè)量領(lǐng)域。 2.6 天寶DiNi03數(shù)字水準(zhǔn)儀簡(jiǎn)介 2.6.1 儀器簡(jiǎn)介 天寶DiNi03數(shù)字水準(zhǔn)儀（圖1所示，表3是儀器對(duì)應(yīng)的部件）是世界上精度最高的數(shù)字水準(zhǔn)儀（DS1水準(zhǔn)），其公司開發(fā)的軟件可全自動(dòng)數(shù)據(jù)處理，可實(shí)現(xiàn)無(wú)紙化作業(yè)，自動(dòng)出報(bào)表。在工程測(cè)量、結(jié)構(gòu)、沉降觀測(cè)、高精度的水準(zhǔn)網(wǎng)觀測(cè)，天寶的DiNi數(shù)字水準(zhǔn)儀都能提供精確的觀測(cè)結(jié)果和可靠的數(shù)據(jù)。 圖1 天寶DiNi03數(shù)字水準(zhǔn)儀 表

14、 3 儀器部件名稱 部件編號(hào) 部件名稱 1 望遠(yuǎn)鏡遮陽(yáng)板 2 望遠(yuǎn)鏡調(diào)焦旋鈕 3 觸發(fā)鍵 4 水平微調(diào) 5 刻度盤 6 腳螺旋 7 底座 8 電源/通訊口 9 鍵盤 10 顯示器 11 圓水準(zhǔn)氣泡 12 十字絲 13 可以動(dòng)圓水準(zhǔn)氣泡調(diào)節(jié)器 14 電池盒 15 瞄準(zhǔn)器 2.6.2 精度指標(biāo) 天寶DiNi03數(shù)字水準(zhǔn)儀相關(guān)的精度指標(biāo)見表4。 表 4 精度指標(biāo) 性能指標(biāo) 性能內(nèi)容 1km往返精度 0.3mm 測(cè)量范圍 1.5-100m 補(bǔ)償精度 ±15′ 安平精度 ±0.2″

15、望遠(yuǎn)鏡倍率 32× 100m視野 2.8m 最短視距 0.6m 夜間及隧道測(cè)量 可以 2.6.3 儀器工作原理 天寶DiNi03數(shù)字水準(zhǔn)儀，它是在自動(dòng)安平水準(zhǔn)儀的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。它采用條碼標(biāo)尺，各廠家標(biāo)尺編碼的條碼圖案不相同，不能互換使用。目前照準(zhǔn)標(biāo)尺和調(diào)焦仍需目視進(jìn)行。人工完成照準(zhǔn)和調(diào)焦之后，標(biāo)尺條碼一方面被成象在千里鏡分化板上，供目視觀測(cè)，另一方面通過(guò)千里鏡的分光鏡，標(biāo)尺條碼又被成象在光電傳感器（又稱探測(cè)器）上，即線陣CCD器件上，供電子讀數(shù)。 3 i角檢校方法 3.1 i角簡(jiǎn)介 3.1.1 i角含義 水準(zhǔn)儀i角指的是水準(zhǔn)儀望遠(yuǎn)鏡的視準(zhǔn)線和

16、附合氣泡水準(zhǔn)管的水準(zhǔn)軸在豎直平面上投影的夾角[3]。 3.1.2 i角產(chǎn)生原因 儀器制造加工本身就存在精度誤差，經(jīng)過(guò)校正，儀器仍會(huì)存在一些殘余誤差。測(cè)量中當(dāng)水準(zhǔn)氣泡居中時(shí)，視準(zhǔn)軸仍不能完全水平，這樣在水準(zhǔn)標(biāo)尺上的讀數(shù)也就產(chǎn)生了誤差。其中主要是水準(zhǔn)管軸與視準(zhǔn)軸的不平行所產(chǎn)生的誤差，即i角（校正殘余）誤差。 3.1.3 i角檢校的基本原理[4] 在地面選定兩個(gè)固定點(diǎn)A、B，測(cè)出A、B的兩次高差和。設(shè)儀器存在i角誤差，則按式得 （1）

17、 （2） 即 （3） （4） 目前在實(shí)際應(yīng)用中采用兩種做法，一種是使，此時(shí)就是無(wú)i角影響的高差，于是（4）式簡(jiǎn)化為 （5） 另一種是使，此時(shí) （6） 3.1.4 i角檢校的意義 i角在讀數(shù)和高差中都有一定影響。 （1）i

18、角在讀數(shù)中的影響 設(shè)i角使視線向上或向下傾斜，那么它在A點(diǎn)尺子上的讀數(shù)叫水平視線的讀數(shù)增大或減小一個(gè)值。若A點(diǎn)距儀器的距離為S，則 （7） 一般i角均甚小，上式可寫成 （8） 當(dāng)i角的大小不變時(shí)，則的大小與S成正比；即尺子離儀器越遠(yuǎn)， i角對(duì)讀數(shù)的影響越大。 （2）i角在高差中的影響 用實(shí)際讀數(shù)計(jì)算A、B 兩點(diǎn)的高差為

19、 （9） 式中，為后視讀數(shù)；為前視讀數(shù)。 A、B 兩點(diǎn)的正確高差應(yīng)為 （10） 式中,為i角在高差中的影響，用表示，即 （11） 顯然，當(dāng)后視與前視的距離相等時(shí)，i角對(duì)于高差的影響，可得到正確的高差。而當(dāng)后視與前視的距離不相等時(shí)，則所測(cè)得的高差不正確[5]。 3.2 i角檢校方法 3.2.1 基本原理檢校方法 （1）求A、B 兩點(diǎn)間的正確高差 在一點(diǎn)S架設(shè)儀器，在較平坦的地方選定適當(dāng)距離的兩個(gè)點(diǎn)A、B，放上尺墊。分別瞄準(zhǔn)向距離儀器A、B兩方向30m的地方豎立的水準(zhǔn)尺，定

20、出等距離的A、B兩點(diǎn)( A、S、B三點(diǎn)位于一條直線上)，在A、B兩點(diǎn)上放置尺墊，然后在A、B兩點(diǎn)立尺并讀數(shù), 設(shè)讀數(shù)為、，則 =-。用變動(dòng)儀器高的方法再測(cè)一次高差，設(shè)為。當(dāng)兩次測(cè)得的高差不大于3mm時(shí)，取其平均值作為最后的正確高差，用表示，即，如圖2所示。從圖2中可看出：由于距離相等，兩軸不平行所引起的在兩尺的讀數(shù)誤差x在計(jì)算高差時(shí)自動(dòng)消除，故不受視準(zhǔn)軸誤差的影響，是A、B兩點(diǎn)間的正確高差。 圖2 A、B兩點(diǎn)高差求解示意圖 （2）求水準(zhǔn)儀的i角 如圖3所示，安置水準(zhǔn)儀于點(diǎn)B附近的處，距離B點(diǎn)3m左右，瞄準(zhǔn)B點(diǎn)水準(zhǔn)尺，在B尺上讀數(shù)為，因儀器離B點(diǎn)很近，兩軸不平行引起的讀數(shù)誤差可忽

21、略不計(jì)。則二軸平行時(shí)在A尺上的應(yīng)有讀數(shù)為：，讀出A尺上的讀數(shù)，如果=，則水準(zhǔn)管軸平行視準(zhǔn)軸，否則存在i角。從圖3中可看出：，其中[6]。 圖3 水準(zhǔn)儀的i角求解示意圖 圖4、5、6、7分別為實(shí)際觀測(cè)時(shí)具體的操作步驟。 圖4 整平 圖5 瞄準(zhǔn)水準(zhǔn)尺觀測(cè) 圖6 讀數(shù) 圖7 計(jì)算處理數(shù)據(jù) 為確保準(zhǔn)確度，重復(fù)上述操作三次，得出三組數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)如表5所示。 表 5 觀測(cè)數(shù)據(jù) 測(cè)站編號(hào) 第一次 A B 1 距離（m） 30.032 3

22、0.098 讀數(shù)（m） 1.46098 1.45168 2 距離（m） 57.011 3.013 讀數(shù)（m） 1.56035 1.54841 測(cè)站編號(hào) 第二次 A B 1 距離（m） 30.030 30.099 讀數(shù)（m） 1.46095 1.45167 2 距離（m） 57.012 3.010 讀數(shù)（m） 1.56038 1.54842 測(cè)站編號(hào) 第三次 A B 1 距離（m） 30.031 30.097 讀數(shù)（m） 1.46097 1.45166 2 距離（m） 57.010 3.012 讀數(shù)（m）

23、1.56032 1.54843 第一次數(shù)據(jù)帶入得 第二次數(shù)據(jù)帶入得 第三次數(shù)據(jù)帶入得 3.2.2 費(fèi)式(Forstner) 法 在站1架設(shè)儀器，整平之后，與站1距離15m的A點(diǎn)放置水準(zhǔn)尺，該點(diǎn)要放置尺墊，點(diǎn)擊測(cè)量鍵，記錄對(duì)A點(diǎn)的讀數(shù)。調(diào)轉(zhuǎn)水準(zhǔn)儀，在與A點(diǎn)相反方向距離15m的點(diǎn)放置水準(zhǔn)尺，該點(diǎn)為轉(zhuǎn)點(diǎn)，切記該點(diǎn)不要放置尺墊，并標(biāo)記該點(diǎn)，再于站1距離30m的B點(diǎn)再次放置水準(zhǔn)尺，該點(diǎn)要放置尺墊，記錄對(duì)B點(diǎn)的讀數(shù)，然后將儀器遷至方才標(biāo)記的轉(zhuǎn)點(diǎn)，整平之后，分別瞄準(zhǔn)A、B點(diǎn)，記錄讀數(shù)。此即費(fèi)式(Forstner) 法，該方法即兩條水準(zhǔn)尺A、B安置在相距45m的距

24、離，將其分為三等份，而水準(zhǔn)儀分別安置在三等分點(diǎn)之上。根據(jù)相關(guān)原理，得出水準(zhǔn)儀i角計(jì)算公式為： （12） 式中，、分別為儀器在測(cè)站1時(shí)對(duì)A尺和B尺的讀數(shù)；、分別為儀器在測(cè)站2時(shí)對(duì)A尺和B尺的讀數(shù)；、分別為儀器在測(cè)站1時(shí)對(duì)A尺和B尺的距離；、分別為儀器在測(cè)站2時(shí)A尺和B尺的距離，如圖8所示[3,7-9]。 圖8 費(fèi)式法 為確保準(zhǔn)確度，重復(fù)上述操作三次，得出三組數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)如表6所示。 表 6 觀測(cè)數(shù)據(jù) 測(cè)站編號(hào) 第一次 A B 1 距離（m） 15.094 30.121 讀數(shù)（m）

25、 1.44873 1.44760 2 距離（m） 30.134 15.088 讀數(shù)（m） 1.35532 1.35266 測(cè)站編號(hào) 第二次 A B 1 距離（m） 15.095 30.122 讀數(shù)（m） 1.44862 1.44762 2 距離（m） 30.131 15.089 讀數(shù)（m） 1.35513 1.35264 測(cè)站編號(hào) 第三次 A B 1 距離（m） 15.093 30.120 讀數(shù)（m） 1.44861 1.44760 2 距離（m） 30.132 15.086 讀數(shù)（m） 1.35513 1

26、.35263 第一次數(shù)據(jù)帶入得 第二次數(shù)據(jù)帶入得 第三次數(shù)據(jù)帶入得 3.2.3 李式（Nabauer）法 在站1架設(shè)儀器，與站1距離15m的A點(diǎn)放置水準(zhǔn)尺，記錄對(duì)A點(diǎn)的讀數(shù)，與站1距離30m的B點(diǎn)放置水準(zhǔn)尺，記錄對(duì)B點(diǎn)的讀數(shù)。將B點(diǎn)作標(biāo)記，再將此水準(zhǔn)尺水平移至與站1距離45m的地方，并標(biāo)記該點(diǎn)，記為站2，然后將儀器遷至此點(diǎn)，同時(shí)該點(diǎn)的水準(zhǔn)尺回到B點(diǎn)，整平水準(zhǔn)儀后，在站2點(diǎn)分別瞄準(zhǔn)A、B點(diǎn)，記錄讀數(shù)。此即選擇約45m長(zhǎng)的距離,將其分成三等份。安置儀器和水準(zhǔn)尺,則儀器i角為： （13） 式中各符號(hào)與式（12）一致，如圖9所示[3,7-9]。 圖9

27、 李式法 為確保準(zhǔn)確度，重復(fù)上述操作三次，得出三組數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)如表7所示。 表7 觀測(cè)數(shù)據(jù) 測(cè)站編號(hào) 第一次 A B 1 距離（m） 15.094 30.095 讀數(shù)（m） 1.35259 1.33323 2 距離（m） 29.868 14.858 讀數(shù)（m） 1.41151 1.39049 測(cè)站編號(hào) 第二次 A B 1 距離（m） 15.093 30.094 讀數(shù)（m） 1.35258 1.33320 2 距離（m） 29.869 14.859 讀數(shù)（m） 1.41150 1.39047 測(cè)站編號(hào) 第三次

28、 A B 1 距離（m） 15.092 30.096 讀數(shù)（m） 1.35265 1.33318 2 距離（m） 29.866 14.860 讀數(shù)（m） 1.41148 1.39046 第一次數(shù)據(jù)帶入得 第二次數(shù)據(jù)帶入得 第三次數(shù)據(jù)帶入得 3.2.4 庫(kù)式（Kukkamaek）法 在站1點(diǎn)架設(shè)儀器，向一方向距離為10m的地方安置水準(zhǔn)尺A，在其相反的方向約為10m的地方安置水準(zhǔn)尺B，分別記錄對(duì)A、B兩點(diǎn)的讀數(shù)。在B點(diǎn)作一標(biāo)記，將水準(zhǔn)尺沿同方向在距儀器30m的位置安置水準(zhǔn)尺B，并標(biāo)記該點(diǎn)，然后將儀器遷至此處整平即為站2，同時(shí)水準(zhǔn)

29、尺回到原B點(diǎn)，在站2處分別觀測(cè)A、B兩點(diǎn)并記錄讀數(shù)。即為在相距20m的距離, 首先在兩條水準(zhǔn)尺A、B中點(diǎn)安置儀器站1進(jìn)行讀數(shù)，然后在兩條水準(zhǔn)尺連線上距其中之一20m處安置另一儀器站2，進(jìn)行讀數(shù)。則儀器i角為: （14） 式中各符號(hào)與式（12）一致，如圖10所示[3,7-9]。 圖10 庫(kù)式法 為確保準(zhǔn)確度，重復(fù)上述操作三次，得出三組數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)如表8所示。 表 8 觀測(cè)數(shù)據(jù) 測(cè)站編號(hào) 第一次 A B 1 距離（m） 10.027 10.032 讀數(shù)（m） 1.39429 1.39172 2 距離（m） 40.087

30、19.994 讀數(shù)（m） 1.37819 1.37508 測(cè)站編號(hào) 第二次 A B 1 距離（m） 10.031 10.026 讀數(shù)（m） 1.39434 1.39199 2 距離（m） 40.074 19.993 讀數(shù)（m） 1.37814 1.37519 測(cè)站編號(hào) 第三次 A B 1 距離（m） 10.030 10.030 讀數(shù)（m） 1.39430 1.39185 2 距離（m） 40.078 19.993 讀數(shù)（m） 1.37816 1.37512 第一次數(shù)據(jù)帶入得 第二次數(shù)據(jù)帶入得

31、 第三次數(shù)據(jù)帶入得 3.2.5 日本（Japanese）法 該方法基本上與庫(kù)式法相同，只是兩條水準(zhǔn)尺的距離為30 m，另一儀器站2距水準(zhǔn)尺A的距離為3m。具體方法為：在站1點(diǎn)架設(shè)儀器，離儀器15m的距離處放置水準(zhǔn)尺A，并標(biāo)記該點(diǎn)，相反的方向離儀器15m的距離處放置水準(zhǔn)尺B，分別記錄對(duì)A、B的讀數(shù)。再將水準(zhǔn)尺A移至相同方向與站1相距18m的地方，并標(biāo)記該點(diǎn)，然后將儀器移至該點(diǎn)，此為站2，同時(shí)水準(zhǔn)尺A返回剛才的位置，在站2點(diǎn)分別觀測(cè)并記錄對(duì)A、B的讀數(shù)。則儀器i角為： （15） 式中各符號(hào)與式（12）相同，如圖11所示[3,7-9

32、]。 圖11 日本法 為確保準(zhǔn)確度，重復(fù)上述操作三次，得出三組數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)如表9所示。 表 9 觀測(cè)數(shù)據(jù) 測(cè)站編號(hào) 第一次 A B 1 距離（m） 15.006 14.992 讀數(shù)（m） 1.38109 1.39448 2 距離（m） 3.008 33.067 讀數(shù)（m） 1.38251 1.39734 測(cè)站編號(hào) 第二次 A B 1 距離（m） 15.010 14.993 讀數(shù)（m） 1.38103 1.39455 2 距離（m） 3.006 33.056 讀數(shù)（m） 1.38254 1.39754 測(cè)站編號(hào)

33、 第三次 A B 1 距離（m） 15.010 14.993 讀數(shù)（m） 1.38103 1.39455 2 距離（m） 3.006 33.056 讀數(shù)（m） 1.38254 1.39754 第一次數(shù)據(jù)帶入得 第二次數(shù)據(jù)帶入得 第三次數(shù)據(jù)帶入得 3.3 實(shí)際測(cè)試分析與結(jié)論 （1）分別將上述五種方法中對(duì)應(yīng)的每三組數(shù)據(jù)求最或然值，見表10。 表10 i角最或然值計(jì)算 i角檢驗(yàn)校正方法 i角數(shù)值 最或然值 基本原理檢校方法 費(fèi)式(Forstner) 法 李式（Nabauer）法

34、 庫(kù)式（Kukkamaek）法 日本（Japanese）法 （2）以上五種方法均是把檢驗(yàn)和校正結(jié)合為一體，經(jīng)實(shí)際測(cè)試，檢驗(yàn)之后儀器可自動(dòng)完成校正，使i角達(dá)到允許的范圍內(nèi)，符合國(guó)家水準(zhǔn)測(cè)量規(guī)范中一等水準(zhǔn)點(diǎn)i，二等水準(zhǔn)點(diǎn)i的要求[10]。例如：測(cè)試中，用費(fèi)氏法校正后，i角為；用李氏法校正后i角為。 （3）以上五種方法得出的i角存在差異，其誤差主要來(lái)源于三個(gè)方面：儀器誤差、觀測(cè)誤差、外界條件的影響，其中儀器誤差主要由視準(zhǔn)軸與水準(zhǔn)管軸不平行的誤差和水準(zhǔn)尺誤差引起的，觀測(cè)誤差主要由精平誤差、調(diào)焦誤差、水準(zhǔn)尺傾斜誤差引起，而外界環(huán)境的影響則主要源于

35、水準(zhǔn)儀水準(zhǔn)尺下沉誤差、大氣折光的影響、日照及風(fēng)力引起的誤差等。 （4）五種方法的對(duì)比分析 ①五種方法的基本原理相同，都是立兩個(gè)水準(zhǔn)尺，水準(zhǔn)儀不僅安置在兩個(gè)水準(zhǔn)尺的中間處，而且安置在距兩個(gè)水準(zhǔn)尺的距離不同的地方，所以所測(cè)得的兩個(gè)立尺點(diǎn)之間的高差會(huì)受到i角的影響，這樣一來(lái)，就可以利用儀器的兩個(gè)不同位置所測(cè)得的兩個(gè)立尺點(diǎn)之間的高差的不同，求出i角的大小。 ②普通光學(xué)機(jī)械水準(zhǔn)儀在校正i角時(shí)，都需要利用校正針來(lái)改正望遠(yuǎn)鏡十字絲或者水準(zhǔn)管，操作比較麻煩。而數(shù)字水準(zhǔn)儀校正i角時(shí)，五種方法都是用儀器內(nèi)部的程序來(lái)校正i角，自動(dòng)化程度高，校正的結(jié)果更可靠。 ③采用五種不同方法時(shí)，兩次安置水準(zhǔn)儀時(shí)，水準(zhǔn)儀的

36、移動(dòng)距離不同，參見表11。 表 11 兩次安置時(shí)水準(zhǔn)儀的相對(duì)距離 i角檢驗(yàn)校正方法 水準(zhǔn)儀的移動(dòng)距離(m) 說(shuō)明 基本原理檢校方法 27 水準(zhǔn)儀移動(dòng)距離較大 費(fèi)式(Forstner) 法 15 水準(zhǔn)儀移動(dòng)距離最小 李式（Nabauer）法 45 水準(zhǔn)儀移動(dòng)距離最大 庫(kù)式（Kukkamaek）法 30 水準(zhǔn)儀移動(dòng)距離較大 日本（Japanese）法 18 儀器與尺之間距離變化大 ④采用五種不同方法時(shí)，水準(zhǔn)儀和水準(zhǔn)尺之間的相對(duì)位置不同。參見表12。 表 12 水準(zhǔn)儀和水準(zhǔn)尺的相對(duì)位置 i角檢驗(yàn)校正方法 水準(zhǔn)儀與水準(zhǔn)尺的相對(duì)位置 基本原理檢校方

37、法 水準(zhǔn)儀安置在兩個(gè)水準(zhǔn)尺之間 費(fèi)式(Forstner) 法 水準(zhǔn)儀安置在兩個(gè)水準(zhǔn)尺之間 李式（Nabauer）法 水準(zhǔn)儀安置在兩個(gè)水準(zhǔn)尺的外側(cè) 庫(kù)式（Kukkamaek）法 水準(zhǔn)儀與水準(zhǔn)尺間隔放置 日本（Japanese）法 儀器距離尺的距離變化大調(diào)焦變化大 （5）根據(jù)實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果，費(fèi)式(Forstner) 法與其他三種方法對(duì)比，該法儀器移動(dòng)的距離較小，儀器位于兩水準(zhǔn)尺之間，且調(diào)焦距變動(dòng)小，操作簡(jiǎn)便，測(cè)量結(jié)果也同樣可靠，因此費(fèi)式(Forstner) 法更為適用[5,7]。 4 i角誤差分析 4.1 觀測(cè)中誤差的確定 將儀器置于一點(diǎn)處，水準(zhǔn)尺分別立于15、20

38、、30m處，瞄準(zhǔn)水準(zhǔn)儀每隔一分鐘測(cè)量一次，每一個(gè)點(diǎn)共測(cè)30次，求取測(cè)量時(shí)觀測(cè)中誤差。下面表13、14、15分別是水準(zhǔn)尺讀數(shù)樣本值。 表 13 視距為15m時(shí)水準(zhǔn)尺讀數(shù)樣本值 觀測(cè)次序 觀測(cè)值（m） 觀測(cè)次序 觀測(cè)值（m） 觀測(cè)次序 觀測(cè)值（m） 1 1.44874 11 1.44875 21 1.44870 2 1.44869 12 1.44873 22 1.44880 3 1.44884 13 1.44879 23 1.44869 4 1.44878 14 1.44882 24 1.44871 5 1.44874 15

39、1.44878 25 1.44879 6 1.44879 16 1.44882 26 1.44872 7 1.44875 17 1.44873 27 1.44874 8 1.44878 18 1.44868 28 1.44881 9 1.44878 19 1.44875 29 1.44883 10 1.44880 20 1.44884 30 1.44877 取平均數(shù)得，可以求得，代入白塞爾公式，可以計(jì)算得觀測(cè)中誤差 表 14 視距為20m時(shí)水準(zhǔn)尺讀數(shù)樣本值 觀測(cè)次序 觀測(cè)值（m）

40、 觀測(cè)次序 觀測(cè)值（m） 觀測(cè)次序 觀測(cè)值（m） 1 1.44269 11 1.44274 21 1.44272 2 1.44272 12 1.44268 22 1.44273 3 1.44277 13 1.44274 23 1.44268 4 1.44279 14 1.44273 24 1.44269 5 1.44276 15 1.44277 25 1.44274 6 1.44270 16 1.44270 26 1.44270 7 1.44276 17 1.44266 27 1.44277 8 1.

41、44272 18 1.44270 28 1.44276 9 1.44275 19 1.44271 29 1.44272 10 1.44275 20 1.44274 30 1.44273 取平均數(shù)得，可以求得，代入白塞爾公式，可以計(jì)算得觀測(cè)中誤差 表 15 視距為30m時(shí)水準(zhǔn)尺讀數(shù)樣本值 觀測(cè)次序 觀測(cè)值（m） 觀測(cè)次序 觀測(cè)值（m） 觀測(cè)次序 觀測(cè)值（m） 1 1.43930 11 1.43931 21 1.43941 2 1.43940 12 1.43933 22 1.43931 3 1.43939 13 1.

42、43927 23 1.43927 4 1.43931 14 1.43930 24 1.43930 5 1.43928 15 1.43928 25 1.43944 6 1.43929 16 1.43931 26 1.43937 7 1.43939 17 1.43939 27 1.43935 8 1.43930 18 1.43928 28 1.43939 9 1.43933 19 1.43934 29 1.43931 10 1.43926 20 1.43937 30 1.43928 取平均數(shù)得，可以求得，代入

43、白塞爾公式，可以計(jì)算得觀測(cè)中誤差 根據(jù)上表的數(shù)據(jù)，可求出觀測(cè)中誤差，見表16。 表 16 觀測(cè)中誤差最或然值 視距（m） 觀測(cè)中誤差（mm） 觀測(cè)中誤差最或然值（mm） 15 0.051 ±0.044 20 0.049 30 0.033 4.2 i角中誤差的計(jì)算 設(shè)儀器安置于A、B的中間，讀數(shù)依次為、，則高差為 （16） 然后改變儀器高度重新觀測(cè)，讀數(shù)依次為、，則高差為 （17） 那么A、B兩點(diǎn)的正確高

44、差為 （18） 現(xiàn)將儀器安置在AB直線上非中間點(diǎn)觀測(cè)，讀數(shù)依次為，，則高差為 （19） 那么，含i角誤差的高差與無(wú)i角誤差的高差之差為 （20） 設(shè)AB 的距離為，則有 （21） 全微分上式可得 （22） 一般說(shuō)來(lái)，、、、、、可認(rèn)

45、為是等精度獨(dú)立觀測(cè)值，設(shè)中誤差為m，中誤差設(shè)為，i中誤差設(shè)為，則由誤差傳播定律可得 （23） 因?yàn)橐话愦笥?0m，m一般大于等于1mm,在1cm及以下，容易控制在10cm及以下。所以，上式中右邊分子的第一項(xiàng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于第二項(xiàng)，于是，可以舍去右邊分子的第二項(xiàng)，簡(jiǎn)化得 （24） 分別取為10m、15m 、20m、30m、40m、50m、60m、70m、80m，m取±0.044mm，按式（24）可得表17（取的3倍）。 表

46、17 i角誤差計(jì)算 10 15 20 30 40 50 60 70 80 1.57 1.05 0.79 0.52 0.39 0.31 0.27 0.22 0.20 4.72 3.14 2.36 1.57 1.18 0.94 0.79 0.67 0.59 下面結(jié)合以上五種i角檢校方法實(shí)際分析i角誤差，如表18所示。 表 18 i角檢校方法誤差計(jì)算 i角檢驗(yàn)校正方法 距離/m i角誤差 基本原理檢校方法 60 0.27 費(fèi)式(Forstner) 法 45 0.35 李式（Nabauer）法 15

47、1.05 庫(kù)式（Kukkamaek）法 20 0.79 日本（Japanese）法 30 0.52 從上表可以看出，i角誤差的變化是隨著AB距離的增大而減小的。 4.3 i角誤差分析 當(dāng)取為10m、20m、30m、40m、50m、60m、70m、80mm時(shí)，再取(讀數(shù)誤差取1mm是很合理的)，按式（24）可得i角誤差限差的一個(gè)參考標(biāo)準(zhǔn)，見表19（取的3倍）。 表 19 i角誤差計(jì)算 10 20 30 40 50 60 70 80 35.7 17.9 11.9 8.9 7.1 6.0 5.1 4.5 107.1 53.

48、6 35.7 26.8 21.4 17.9 15.3 13.4 由表19可知： （1）隨著AB距離增加，和都在減小，但是規(guī)范規(guī)定，一等水準(zhǔn)要求AB距離不能超過(guò)30m，而二等水準(zhǔn)要求AB距離不能超過(guò)50m。因此，AB距離有一個(gè)界限，不能為了減少和，而隨意增大AB距離。 （2）籠統(tǒng)地說(shuō)一等水準(zhǔn)的i不要超過(guò)是不恰當(dāng)?shù)?，?yīng)該指明檢測(cè)時(shí)AB的距離，并按AB的距離確定限差。比如，當(dāng)AB距離為30m時(shí)，容許誤差是，而不是，那么，這時(shí)i算出的結(jié)果若是，也是對(duì)的。而人們并沒有認(rèn)識(shí)到這一點(diǎn)。 （3）當(dāng)AB兩點(diǎn)的距離在60-80m時(shí)，i角容許誤差小于；當(dāng)AB兩點(diǎn)的距離小于60m時(shí)，i角容許誤

49、差可能大于。規(guī)范又規(guī)定，四等水準(zhǔn)要求AB距離不能超過(guò)80m，這就回答了為什么在一定條件下水準(zhǔn)儀i角檢驗(yàn)時(shí)標(biāo)尺間距60-80m。但若按三等水準(zhǔn)的話，水準(zhǔn)儀i角檢驗(yàn)時(shí)標(biāo)尺間距為60-80m就不一定對(duì)了。 （4）當(dāng)AB兩點(diǎn)的距離在50m及以下時(shí)，i角容許誤差大于，如果仍按內(nèi)要求，則顯得條件苛刻。因此，應(yīng)按表19選擇i角容許誤差。 （5）數(shù)字水準(zhǔn)儀采用的某三種i角檢校方法，由于AB的距離短，因此，應(yīng)合理確定i角容許誤差，而不能拘于。但是現(xiàn)在，人們總是強(qiáng)調(diào)數(shù)字水準(zhǔn)儀的自動(dòng)化，而忽略了i角容許誤差與AB的距離的關(guān)系，這是有害的[9,11]。 （6）由于隨著i角的增大，其測(cè)定精度會(huì)降低，因此當(dāng)i角較大

50、時(shí)，水準(zhǔn)儀i角的檢驗(yàn)與校正必須反復(fù)進(jìn)行。 結(jié) 論 本論文針對(duì)天寶DiNi03系列數(shù)字水準(zhǔn)儀進(jìn)行i角誤差檢校并進(jìn)行誤差分析。論文需要結(jié)合儀器實(shí)際，具有一定的深度，涉及專業(yè)知識(shí)較深入，工作量較大。通過(guò)本論文采用不同的方法實(shí)際操作天寶DiNi03系列數(shù)字水準(zhǔn)儀，觀測(cè)得到數(shù)據(jù)從而計(jì)

51、算出i角誤差，然后進(jìn)行方法對(duì)比從而得出比較實(shí)用的方法，最后對(duì)i角進(jìn)行誤差分析，主要得出如下結(jié)論： （1）在闡述天寶DiNi03系列數(shù)字水準(zhǔn)儀以及i角誤差檢校的原因及意義基礎(chǔ)上，制定了天寶DiNi03數(shù)字水準(zhǔn)儀i角誤差檢校方法，即基本原理檢校方法、費(fèi)式(Forstner) 法、李式（Nabauer）法、庫(kù)式（Kukkamaek）法、日本（Japanese）法； （2）依據(jù)《國(guó)家一、二等水準(zhǔn)測(cè)量規(guī)范》（GB12897—2006），實(shí)際操作天寶DiNi03系列數(shù)字水準(zhǔn)儀，得出計(jì)算i角誤差的原始數(shù)據(jù)并計(jì)算出i角誤差； （3）比較不同的檢校方法，得出費(fèi)式(Forstner) 法是比較實(shí)用的i角誤差

52、檢校方法； （4）進(jìn)行了i角誤差分析，得出水準(zhǔn)儀i角檢驗(yàn)時(shí)，i角限差到底選多少，應(yīng)根據(jù)AB標(biāo)尺的距離而定，而不能不管距離、一視同仁。 致 謝 本次畢業(yè)論文是在我的導(dǎo)師 的全力幫助下完成的，從選題、前期技術(shù)資料的準(zhǔn)備、整篇論文的完成。感謝他在各方面給予我的幫助，他認(rèn)真嚴(yán)謹(jǐn)、熱情務(wù)實(shí)的作風(fēng)一直是我工作、學(xué)習(xí)中的榜樣；他的循循善誘也對(duì)我?guī)椭艽蟆? 感謝學(xué)校各位老師們?cè)谖疫@大學(xué)四年里悉心的指導(dǎo)和孜孜不倦的教誨。他們?cè)趯I(yè)學(xué)習(xí)上嚴(yán)格要求，為我的學(xué)習(xí)花費(fèi)了很多心血，并為我營(yíng)造了良好的學(xué)習(xí)環(huán)境。四年的大

53、學(xué)經(jīng)歷也讓我收獲了不少工作、學(xué)習(xí)的經(jīng)驗(yàn)，在我面對(duì)生活，走向社會(huì)的時(shí)候，這些經(jīng)歷總能讓我更快的適應(yīng)周圍的環(huán)境。 感謝在此期間我要感謝幫助過(guò)我的其他所有老師，四年來(lái)他們傳授給我專業(yè)知識(shí)和做人的道理，讓我不僅在學(xué)業(yè)還是其他方面都有提高，同時(shí)也為以后走上工作崗位奠定了基礎(chǔ)。 最后，對(duì)在百忙之中對(duì)我的論文進(jìn)行評(píng)審并提出寶貴意見的各位專家、教授致以誠(chéng)摯的謝意。 參 考 文 獻(xiàn) [1] 歲有中，郝永青，張霞新.數(shù)字水準(zhǔn)儀的原理及應(yīng)用[J].測(cè)繪與空間地理信息，2008(8)：208-209. [2] 孫堅(jiān).數(shù)字水準(zhǔn)儀的現(xiàn)狀與發(fā)展[

54、J].北京測(cè)繪，1998(3):33-35. [3] 羅官德，任道勝，陳如麗.數(shù)字水準(zhǔn)儀i角檢校方法探討[J].測(cè)繪信息與工程，2002(8)：45. [4] 潘正鳳，楊正堯，程效軍，等.數(shù)字測(cè)圖原理與方法[M].武漢：武漢大學(xué)出版社，2007. [5] 顧若冰.電子水準(zhǔn)儀i角檢驗(yàn)校正方法比較研究[J].礦山測(cè)量，2008 (10):15-20. [6] 彭瓊芬.檢驗(yàn)水準(zhǔn)儀i角誤差實(shí)驗(yàn)方法的改進(jìn)[J].山西建筑，2007(9):357. [7] 王欣.數(shù)字水準(zhǔn)儀i角檢校方法對(duì)比研究[J].科技創(chuàng)新導(dǎo)報(bào)，2010(13):15. [8] 閆占瑞，劉全明.數(shù)字水準(zhǔn)儀i角隨溫度變化的影響分析[J].鐵道勘察，2005(5):9. [9] 張偉富，劉文谷.水準(zhǔn)儀i角檢驗(yàn)方法及其精度分析[J]. 重慶建筑大學(xué)學(xué)報(bào)，2003(10):47-51. [10] 國(guó)家測(cè)繪局.GB12897—2006國(guó)家一、二等水準(zhǔn)測(cè)量規(guī)范[S]. [11] 鄧永和.水準(zhǔn)儀i角檢驗(yàn)的誤差分析[J].鐵道勘察，2010(6):18-19.