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合同編號(hào)：_________ 測(cè)試技術(shù)指標(biāo)協(xié)議 甲方：_________________________ 乙方：_________________________ 簽訂日期：______年_____月_____日 第 1 頁 共 4 頁 測(cè)試技術(shù)指標(biāo)協(xié)議 ____集成電路設(shè)計(jì)研究中心（甲方）和_____公司（乙方）經(jīng)友好協(xié)商，對(duì)_______項(xiàng)目的有關(guān)測(cè)試技術(shù)指標(biāo)問題達(dá)成如下協(xié)議： 一、乙方應(yīng)在本協(xié)議簽定____天內(nèi)將芯片資料，測(cè)試碼提供給甲方。 二、甲方在乙方提供封裝好的芯片后____天內(nèi)，將測(cè)試分析結(jié)果提交給乙方。 三、具體測(cè)試要求： 甲方按乙方要求，在測(cè)試時(shí)將pa4、pa5、pa6、pa7端經(jīng)3.3k電阻上拉至5伏。 甲方在測(cè)試分析時(shí)，應(yīng)讓____芯片工作在5v。 乙方提供___功能測(cè)試碼文件（t____t格式）兩份。 甲方使用乙方提供的功能測(cè)試碼文件，在1mhz下對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試分析。 乙方認(rèn)為正常情況下，樣品的功能測(cè)試應(yīng)全部通過，參數(shù)測(cè)試結(jié)果應(yīng)在下表給定的范圍內(nèi)。 測(cè)試參數(shù)（常溫） 測(cè)試條件 最大值 典型值 最大值 單位 靜態(tài)工作電流 vdd=5v ua 動(dòng)態(tài)工作電流 vdd=5v ua 輸入高電平電壓 vdd=5v v 輸入低電平電壓 vdd=5v v 輸入高電平電流 vdd=5v，vih=5v ua 輸入低電平電流 vdd=5v，vil=0v ua 輸出高電平電壓 vdd=5v v 輸出低電平電壓 vdd=5v v 輸出高電平電流 vdd=5v，voh=4.2v ma 輸出低電平電流 vdd=5v，vol=0.4v ma 如乙方提供的樣品中有___%滿足以上要求，甲方應(yīng)向乙方出具一份測(cè)試分析報(bào)告，并以附件形式（磁盤文件，t____t格式）提供詳細(xì)的測(cè)試數(shù)據(jù)。 乙方若對(duì)甲方出具的測(cè)試分析報(bào)告及測(cè)試數(shù)據(jù)有任何疑問，必須在甲方測(cè)試分析工作完成之日起的兩個(gè)月內(nèi)向甲方提出。 乙方若須增加測(cè)試分析內(nèi)容，必須與甲方協(xié)商解決。 甲方： 乙方： 第 3 頁 共 4 頁 合同編號(hào)：_________ 本文至此結(jié)束，感謝您的瀏覽! （模板僅供參考） 下載修改即可使用 第 4 頁 共 4 頁