光譜分析實(shí)驗(yàn)報(bào)告.doc
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一、實(shí)驗(yàn)?zāi)? 通過(guò)本實(shí)驗(yàn)了解紫光/可見(jiàn)光光度計(jì)、傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR)和熒光光譜儀的基本原理、主要用途和實(shí)際操作過(guò)程。掌握玻璃透光率、薄膜吸收光譜、固體粉末紅外光譜和固體發(fā)光材料熒光光譜的測(cè)試方法。學(xué)習(xí)分析影響測(cè)試結(jié)果的主要因素。 二、實(shí)驗(yàn)原理 電磁波可與多種物質(zhì)相互作用。如果這種作用導(dǎo)致能量從電磁波轉(zhuǎn)移至物質(zhì),就稱(chēng)為吸收。當(dāng)光波與某一受體作用時(shí),光子和接受體之間就存在碰撞。光子的能量可被傳遞給接受體而被吸收,由此產(chǎn)生吸收光譜。通常紫外和可見(jiàn)光的能量接近于某兩個(gè)電子能級(jí)地能量差,故紫外與可見(jiàn)光吸收光譜起源于價(jià)電子在電子能級(jí)之間的躍遷,又稱(chēng)為電子光譜。 當(dāng)一束平行單色光照射到非散射的均勻介質(zhì)時(shí),光的一部分將被介質(zhì)所反射,一部分被介質(zhì)吸收,一部分透過(guò)介質(zhì)。如果入射光強(qiáng)度為I0.反射光強(qiáng)度為Ir,吸收光強(qiáng)度為Ia,透過(guò)光強(qiáng)度為It,則有I0=Ir+Ia+It 投射光強(qiáng)度與入射光強(qiáng)度之比稱(chēng)為透光率 T=It/I0 當(dāng)一束具有連續(xù)波長(zhǎng)的紅外光照射某化合物時(shí),其分子要吸收一部分光能轉(zhuǎn)變?yōu)榉肿拥恼饎?dòng)能量或轉(zhuǎn)動(dòng)能量。此時(shí)若將其透過(guò)的光用單色器進(jìn)行色散,就可得到一帶暗條的譜帶。以紅外光的波長(zhǎng)或波數(shù)為橫坐標(biāo),以吸收率或者透過(guò)率百分?jǐn)?shù)為縱坐標(biāo),把該譜帶記錄下來(lái),就可得到該化合物的紅外吸收光譜圖。不同的化合物均有標(biāo)準(zhǔn)特征譜,將實(shí)驗(yàn)所得的光譜與標(biāo)準(zhǔn)譜對(duì)照,就可進(jìn)行分子結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)研究和化合組成的分析??捎晌辗宓奈恢煤托螤顏?lái)推知被測(cè)物的結(jié)構(gòu),按照特征峰的強(qiáng)度來(lái)測(cè)定混合物中各組分的含量。 當(dāng)分子吸收來(lái)自光輻射的能量后,其本身就由處于穩(wěn)定的基態(tài)躍遷至不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài): M+hν→。激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的,壽命極短,激發(fā)態(tài)分子會(huì)迅速以向周?chē)峄蛟侔l(fā)射電磁波(熒光或磷光)的方式回到基態(tài):→M+熒光(或磷光)。任何能產(chǎn)生熒光(或磷光)的物質(zhì)都具有兩個(gè)特征光譜:激發(fā)光譜和發(fā)射光譜。 激發(fā)光譜:熒光(或磷光)為光致發(fā)光,因此必須選擇合適的激發(fā)光波長(zhǎng),這可通過(guò)激發(fā) 光譜曲線(xiàn)來(lái)確定。選擇熒光(或磷光)的最大發(fā)射波長(zhǎng)為測(cè)量波長(zhǎng)(監(jiān)控波長(zhǎng)),改變激發(fā)光的波長(zhǎng),測(cè)量熒光強(qiáng)度變化。以激發(fā)光波長(zhǎng)為橫坐標(biāo),熒光強(qiáng)度為縱坐標(biāo)作圖,即可獲得激發(fā)光譜。激發(fā)光譜形狀與吸收光譜形狀極為相似,經(jīng)校正后的激發(fā)光譜與吸收光譜不僅形狀相同,而且波長(zhǎng)位置一致。這是因?yàn)槲镔|(zhì)吸收能量的過(guò)程就是激發(fā)過(guò)程。 發(fā)射光譜:將激發(fā)波長(zhǎng)固定在最大激發(fā)波長(zhǎng)處,然后掃描發(fā)射波長(zhǎng),測(cè)定不同波長(zhǎng)處的熒光(或磷光)強(qiáng)度,即可得到熒光(或磷光)發(fā)射光譜。 三、儀器簡(jiǎn)介 1.紫外/可見(jiàn)光分光光度計(jì) PE公司的Lambda20雙光束紫外/可見(jiàn)光分光光度計(jì),測(cè)量光譜范圍190-1100nm;雜散光0.01%T;波長(zhǎng)精度0.1nm;最高掃描速度2880nm/min。該儀器的整個(gè)操作過(guò)程可完全由計(jì)算機(jī)控制,隨機(jī)提供的UV-Winlab窗口式操作軟件,使樣品測(cè)試、結(jié)果處理、圖形變換和實(shí)驗(yàn)報(bào)告編程及實(shí)驗(yàn)結(jié)果都可在計(jì)算機(jī)中方便地完成。 2.傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR) 早起提供的紅外光譜儀多為色散型雙光束分光光度計(jì),它們的構(gòu)造系統(tǒng)基本上與紫外/可見(jiàn)光分光光度計(jì)一樣。但這類(lèi)有兩個(gè)明顯的缺陷,一是這種色散型紅外分光光度計(jì)是借助依次測(cè)定從出射狹縫分出來(lái)的“單色光”而獲得樣品光譜的,在通常的紅外分光光光度計(jì)中,要得到一張可用的譜圖至少要2分種左右時(shí)間。另一個(gè)缺陷是必須使用狹縫,故進(jìn)入單色器的光能不能太低,否則檢測(cè)困難,這使得鏡反射光譜、常溫樣品的紅外發(fā)射光譜和光源能量小的遠(yuǎn)紅外光譜儀等受到限制。因此,隨著計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展,目前大量使用的紅外光譜儀為傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR)。傅里葉變換紅外光譜儀由邁克爾遜干涉儀和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組合而成,它的工作原理就是邁克爾遜干涉儀的工作原理。 Nicolet公司的Avatar360傅里葉變換紅外光譜儀,測(cè)量范圍4000-400cm-1;分辨率0.9cm-1;信噪比15000:1。該儀器的整個(gè)操作過(guò)程完全由計(jì)算機(jī)控制,隨機(jī)提供的窗口式操作軟件,使樣品測(cè)試、結(jié)果處理、圖形變換、結(jié)果打印都可在計(jì)算機(jī)中方便地完成。 3.熒光光譜儀 日立公司的F-4500熒光光譜儀,測(cè)量光譜范圍200-730nm,最高靈敏度S/N100:1,最快掃描速度30000nm/min。該儀器整個(gè)操作過(guò)程可完全由計(jì)算機(jī)控制,隨機(jī)提供的UV-Winlab窗口式操作軟件,使樣品測(cè)試、結(jié)果處理、圖形變換和實(shí)驗(yàn)報(bào)告編程及實(shí)驗(yàn)結(jié)果都可在計(jì)算機(jī)中方便地完成。裝 訂 線(xiàn) 四、實(shí)驗(yàn)步驟和操作方法 (一)固體試樣的紅外吸收光譜測(cè)試 1.樣品制備 1. 本實(shí)驗(yàn)進(jìn)行固體式樣的紅外光譜分析采用壓片法制備樣品。壓片法是指把固體樣品分散在堿金屬鹵化物中并壓成透明薄片來(lái)減少粒子的散射影響,同時(shí)還排除了溶劑等的吸收干擾,能一次完整地獲得樣品的吸收光譜,且薄片的厚度和樣品濃度可用天平精確稱(chēng)取,便于定量分析。 (1) 樣品:KBr=1:20的混合物放于潔凈的瑪瑙研缽中,并在紅外干燥燈下均勻研磨,使其顆粒在2μ左右。 (2) 將少量研磨好的混合物小心鏟入簡(jiǎn)易壓膜裝置中并攤勻,旋轉(zhuǎn)螺帽盡量壓緊,并在壓力下保持2-3分鐘,然后將兩邊的螺帽旋出,觀察螺母中的薄片,應(yīng)為半透明狀,如果不透明,則薄膜太厚,表明放入的樣品太多,需將壓好的薄膜搗碎清理掉,重新壓片。(注意膜不破,均勻 且透光) 2. 紅外光譜測(cè)試 (1) 檢查Avatar360傅里葉變化紅外光譜儀電源開(kāi)關(guān)置“關(guān)”位置,光譜儀樣品室中無(wú)任何樣品。 (2) 打開(kāi)計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān),計(jì)算機(jī)自動(dòng)進(jìn)入Windows桌面。 (3) 打開(kāi)光譜儀開(kāi)關(guān),光譜儀左后方的電源指示燈與掃描指示燈亮,此時(shí)在計(jì)算機(jī)的Windows桌面上雙擊“IMNICE.S.P.”圖標(biāo),計(jì)算機(jī)進(jìn)入OMNIC窗口,掃描指示燈開(kāi)始閃亮。 (4) 打開(kāi)樣品室,將壓有薄膜樣品的螺母放入光譜儀的樣品室中,關(guān)上樣品室。 (5) 在OMNIC窗口的“Experimental”處選擇Ddfault-default,該實(shí)驗(yàn)程序的基本參數(shù)為掃描次數(shù)32次,分辨率4cm-1,如果要改變實(shí)驗(yàn)參數(shù),可在“Collect”中進(jìn)入Experiment setup進(jìn)行修改。 (6) 單擊OMNIC窗口第三行的第二個(gè)圖標(biāo)(Collect Sample圖標(biāo)),儀器開(kāi)始對(duì)樣品進(jìn)行光裝 訂 線(xiàn) 測(cè)試,測(cè)試結(jié)束后,顯示屏上將自動(dòng)顯示要求進(jìn)行背底測(cè)試掃描的窗口 (7) 打開(kāi)樣品室,取出樣品,然后關(guān)上樣品室,在要求進(jìn)行背底測(cè)試掃描的窗口上單擊“OK”,儀器開(kāi)始進(jìn)行背底測(cè)試掃描,同時(shí)對(duì)前面測(cè)試的樣品進(jìn)行自動(dòng)背底扣除,在顯示屏上顯示已扣除背底的紅外吸收光譜圖。 (8) 在OMNIC窗口的“file”中保存所測(cè)試的光譜圖。 3.測(cè)試結(jié)果處理 分別進(jìn)行投射光譜和吸收光譜的互換,自動(dòng)基線(xiàn)校正,自動(dòng)尋峰,坐標(biāo)歸一化。根據(jù)結(jié)果,進(jìn)行充分的光譜圖形處理。 裝 訂 線(xiàn) (二)光功能薄膜的紫外/可見(jiàn)光吸收光譜測(cè)試(測(cè)光的透過(guò)率) 1.檢查電源開(kāi)關(guān)置“關(guān)”位置,光度計(jì)樣品室光路上無(wú)任何阻擋物。 2.打開(kāi)電源,啟動(dòng)計(jì)算機(jī),進(jìn)入“UV Winlab”操作程序。 3.打開(kāi)光度計(jì)電源,光度計(jì)首先自動(dòng)進(jìn)行自檢。一段時(shí)間后,屏上出現(xiàn)“Remote Standard”,表明一切正常。 4.進(jìn)入下一個(gè)界面“Scan”,設(shè)置參數(shù)(包括起始波長(zhǎng)等): Start Wavelength:800nm Ordinate max:2.00 End Wavelength:350nm; Ordinate min:0.00 Data Interval:1.0nm 5.進(jìn)入“inst.”界面,設(shè)置參數(shù): Ordinate mode:A; Scan Speed:240nm; Smooth:2nm; Lamp UV:off; Lamp Vis:on 6.在參比式樣架和樣品式樣架上分別放入沒(méi)有鍍上光功能薄膜的兩塊空白玻璃基板,蓋上樣品室,單擊“Autozero”光度計(jì)進(jìn)行自動(dòng)校零。 7.校零結(jié)束后,打開(kāi)樣品室,在樣品式樣架上放入鍍有光功能薄膜的玻璃樣品,蓋上樣品室。單擊“Start”,開(kāi)始樣品測(cè)試,結(jié)束后保存結(jié)果。作出圖并倒數(shù)出數(shù)據(jù)。 8.數(shù)據(jù)處理。 (三)發(fā)光材料的熒光光譜測(cè)試 1.檢查F-4500熒光光譜儀電源開(kāi)關(guān)置“關(guān)”位置,光譜儀樣品室中無(wú)任何樣品。 2.打開(kāi)光譜儀主機(jī)電源開(kāi)關(guān),預(yù)熱5分鐘,按下燈電源,再過(guò)5分鐘,打開(kāi)“run”。 3.雙擊“FLSolutuons”,進(jìn)入熒光光譜儀的控制窗口,進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)。 4.打開(kāi)樣品室,將待測(cè)試樣放入樣品室,關(guān)上。 5.為測(cè)定激發(fā)光譜,在“Method”設(shè)置參數(shù)。 6.設(shè)置完成后,按測(cè)試控制畫(huà)面的“Measure”,儀器開(kāi)始為測(cè)定樣品的激發(fā)光譜,在熒光光譜儀控制窗口的“Method”中在設(shè)置參數(shù)。 7.按“Measure” 一起開(kāi)始測(cè)試激發(fā)光譜。測(cè)試激發(fā)光譜。 8.為測(cè)定樣品的發(fā)射光譜,在熒光光譜儀控制窗口的“Method”中在設(shè)置參數(shù) 9. 設(shè)置完成后,按測(cè)試控制畫(huà)面的“Measure”,儀器開(kāi)始自動(dòng)測(cè)試發(fā)射光譜。- 1.請(qǐng)仔細(xì)閱讀文檔,確保文檔完整性,對(duì)于不預(yù)覽、不比對(duì)內(nèi)容而直接下載帶來(lái)的問(wèn)題本站不予受理。
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