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實(shí) 驗(yàn) 報(bào) 告 實(shí)驗(yàn)名稱 __TTL邏輯門電路的變換_ 課程名稱 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)（數(shù)字） 院 系 部: 專業(yè)班級： 學(xué)生姓名： 學(xué) 號: 同 組 人: 實(shí)驗(yàn)臺號: 指導(dǎo)教師： 成 績： 實(shí)驗(yàn)日期: 華北電力大學(xué) 實(shí)驗(yàn)報(bào)告的撰寫要求 實(shí)驗(yàn)報(bào)告要能真實(shí)的反映實(shí)驗(yàn)過程和結(jié)果，是對實(shí)驗(yàn)進(jìn)行總結(jié)、提高的重要環(huán)節(jié)，應(yīng)當(dāng)認(rèn)真撰寫。實(shí)驗(yàn)報(bào)告的要求是有理論分析，要實(shí)事求是，字跡要清楚，文理要通順。 實(shí)驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容包括： 1、 實(shí)驗(yàn)?zāi)康募耙蟆? 2、 實(shí)驗(yàn)儀器：列出完成本次實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)條件。 3、 實(shí)驗(yàn)原理：實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目的已知條件、技術(shù)指標(biāo)、實(shí)驗(yàn)電路。 4、 實(shí)驗(yàn)步驟：根據(jù)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容的要求對電路進(jìn)行測量與調(diào)整方法、出現(xiàn)的故 障以及排除故障的方法。 5、 討論與結(jié)論：總結(jié)實(shí)驗(yàn)心得體會(huì)和收獲，解答思考題，對實(shí)驗(yàn)中存在的 問題等進(jìn)行分析和討論，對實(shí)驗(yàn)的進(jìn)一步想法或改進(jìn)意見。 6、原始數(shù)據(jù)記錄：原始數(shù)據(jù)是指在實(shí)驗(yàn)過程中按照實(shí)驗(yàn)要求進(jìn)行測量的、未經(jīng)任何處理的數(shù)據(jù)和波形，是進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的依據(jù)。要求將實(shí)驗(yàn)教材中的“實(shí)驗(yàn)原始數(shù)據(jù)記錄”撕下，粘貼在實(shí)驗(yàn)報(bào)告“實(shí)驗(yàn)原始數(shù)據(jù)粘貼處”，復(fù)印無效。 實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求： 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康募耙? 二、儀器用具 儀器名稱 規(guī)格/型號 數(shù)量 備注 數(shù)字信號發(fā)生器 1 邏輯轉(zhuǎn)換器 1 74LS00 3 三、實(shí)驗(yàn)原理 四、實(shí)驗(yàn)步驟（包括原理圖、實(shí)驗(yàn)結(jié)果與數(shù)據(jù)處理） 五、討論與結(jié)論（對實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象、實(shí)驗(yàn)故障及處理方法、實(shí)驗(yàn)中存在的問題等進(jìn)行分析和討論，對實(shí)驗(yàn)的進(jìn)一步想法或改進(jìn)意見。） 六、實(shí)驗(yàn)原始數(shù)據(jù) 附頁1 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康募耙? 1. 熟悉用標(biāo)準(zhǔn)與非門實(shí)現(xiàn)邏輯變換的方法。 2. 進(jìn)一步掌握門電路邏輯變換的測試方法。 3. 學(xué)習(xí)基本元器件的選取和電路的連接方法。 4. 學(xué)習(xí)Multisim中單刀開關(guān)的使用方法。 5. 學(xué)習(xí)Multisim中數(shù)字信號發(fā)生器、邏輯轉(zhuǎn)換器等虛擬儀器的使用方法。 二、儀器用具（略） 三、實(shí)驗(yàn)原理 借助摩根定理，可以把“或”、“與或”、“異或”、“同或”等邏輯關(guān)系用“與非門”來實(shí)現(xiàn)。如： 四、實(shí)驗(yàn)步驟（包括原理圖、實(shí)驗(yàn)結(jié)果與數(shù)據(jù)處理） 1. 用TTL與非門組成下列邏輯電路，并在Multisim中進(jìn)行仿真，測試它們的邏輯功能， 列表記錄。輸入信號可由數(shù)字信號發(fā)生器或單刀開關(guān)給出，輸出可以采用指示燈顯示。 （1）與或門 F=AB+CD 與非表達(dá)式： 與非電路圖： 真值表（做完實(shí)驗(yàn)后的整理數(shù)據(jù)） A B C D 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 （2）異或門 F=AB （3）同或門 F=A?B 2. 在Multisim中用TTL與非門構(gòu)成一個(gè)半加器，輸入為Ai、Bi，輸出為Si、Ci，仿真并測試其功能。 真值表： 表達(dá)式： 與非表達(dá)式： 電路圖： 測試功能： Ai Bi Si Ci 0 0 0 1 1 0 1 1 五、討論與結(jié)論（對實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象、實(shí)驗(yàn)故障及處理方法、實(shí)驗(yàn)中存在的問題等進(jìn)行分析和討論，對實(shí)驗(yàn)的進(jìn)一步想法或改進(jìn)意見。） 1、出現(xiàn)的問題 2、改進(jìn)意見 3、心得體會(huì) 實(shí)驗(yàn)原始記錄粘貼處